METROLOGY SHOW
L'Ordine Ingegneri e la Fondazione organizzano questo Convegno che ha l’obiettivo di illustrare le soluzioni di controllo metrologico CAM2 e la tecnologia Factory Array. Imager.
Si veda locandina allegata.
INFORMAZIONI
Luogo di svolgimento: Dipartimento di Ingegneria - Aula Magna
Responsabile Scientifico: Ing. Fabio Radicioni
CFP riconosciuti: - 2 CFP - “Apprendimento non formale - Convegno” .
Note: I CFP verranno riconosciuti solo a coloro che avranno frequentato per intero l'evento formativo, rispettando gli orari prefissati. A tal fine si informa che ciascun partecipante dovrà firmare il registro presenze sia all'inizio che al termine dell'evento e che eventuali ritardi o uscite in anticipo non permetteranno il conseguimento dei CFP.
ISTRUZIONI PER LA PARTECIPAZIONE
Partecipanti ammessi: ingegneri iscritti all'Albo
Numero massimo dei partecipanti: 100 La registrazione è obbligatoria e va effettuata utilizzando il seguente link: http://www.mesa-laserscanner3d.com/index.php/metrology-show
Costo per la partecipazione: evento gratuito.
Allegati/Materiale didattico:
Data e ora evento:
Resp. scientifico:
Tipologia:
- Convegno